Interface Roughness Cross-Correlation Laws Deduced From Scattering Diagram Measurements On Optical Multilayers - Effect Of The Material Grain-Size - Ecole Centrale de Marseille Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue Journal of the Optical Society of America. A Optics, Image Science, and Vision Année : 1986

Interface Roughness Cross-Correlation Laws Deduced From Scattering Diagram Measurements On Optical Multilayers - Effect Of The Material Grain-Size

Claude Amra
Institut FRESNEL
CV
Pierre Roche
  • Fonction : Auteur
Emile Pelletier
  • Fonction : Auteur

Domaines

Optique / photonique Electromagnétisme Optique [physics.optics]

Myriam ZERRAD  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal.science/hal-01324299

Soumis le : mardi 31 mai 2016-18:09:32

Dernière modification le : vendredi 24 mars 2023-14:53:02

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-01324299 , version 1 (31-05-2016)

Identifiants

  • HAL Id : hal-01324299 , version 1

Citer

Claude Amra, Pierre Roche, Emile Pelletier. Interface Roughness Cross-Correlation Laws Deduced From Scattering Diagram Measurements On Optical Multilayers - Effect Of The Material Grain-Size. Journal of the Optical Society of America. A Optics, Image Science, and Vision, 1986, 3, pp.54. ⟨hal-01324299⟩

Exporter

BibTeX XML-TEI Dublin Core DC Terms EndNote DataCite

Collections

CNRS UNIV-AMU IF EC-MARSEILLE
38 Consultations
0 Téléchargements

Partager

Gmail Facebook X LinkedIn More