Linewidth enhancement factor measurement by using phase modulation method for epitaxial quantum dot laser on silicon - Equipe Télécommunications Optiques Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2021

Linewidth enhancement factor measurement by using phase modulation method for epitaxial quantum dot laser on silicon

Abstract_SIOE 2021_Shihao Ding.pdf (240.28 Ko) Télécharger le fichier
Origine : Fichiers produits par l'(les) auteur(s)

Dates et versions

hal-03363642 , version 1 (04-10-2021)

Identifiants

  • HAL Id : hal-03363642 , version 1

Citer

Shihao Ding, Bozhang Dong, Heming Huang, John E Bowers, Frédéric Grillot. Linewidth enhancement factor measurement by using phase modulation method for epitaxial quantum dot laser on silicon. 34th Semiconductor and Integrated OptoElectronics (SIOE 2021), 2021, Cardiff, United Kingdom. ⟨hal-03363642⟩
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