Communication Dans Un Congrès
Année : 2015
TelecomParis HAL : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://telecom-paris.hal.science/hal-02412312
Soumis le : dimanche 15 décembre 2019-12:56:32
Dernière modification le : lundi 9 octobre 2023-12:49:40
Citer
Lionel Rivière, Julien Bringer, Thanh-Ha Le, Hervé Chabanne. A novel simulation approach for fault injection resistance evaluation on smart cards. Eighth IEEE International Conference on Software Testing, Verification and Validation, ICST 2015 Workshops, Graz, Austria, April 13-17, 2015, 2015, Graz, Austria. pp.1-8, ⟨10.1109/ICSTW.2015.7107460⟩. ⟨hal-02412312⟩
22
Consultations
1
Téléchargements