Comment on ``Destructive effect of disorder and bias voltage on interface resonance transmission in symmetric tunnel junctions'' - Tusche et al. reply
Résumé
no abstract
Article Dans Une Revue
Physical Review Letters
Année : 2006
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https://hal.science/hal-01288820
Soumis le : mardi 15 mars 2016-16:19:57
Dernière modification le : mercredi 13 mars 2024-09:40:09
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-01288820 , version 1
- DOI : 10.1103/PhysRevLett.96.119602
Citer
C Tusche, Hl Meyerheim, Nathalie Jedrecy, G Renaud, A Ernst, et al.. Comment on ``Destructive effect of disorder and bias voltage on interface resonance transmission in symmetric tunnel junctions'' - Tusche et al. reply. Physical Review Letters, 2006, 96 (11), pp.119602. ⟨10.1103/PhysRevLett.96.119602⟩. ⟨hal-01288820⟩
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