Communication Dans Un Congrès
Année : 1976
Yvette Heyd : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.in2p3.fr/in2p3-00019492
Soumis le : jeudi 31 mai 2001-14:57:12
Dernière modification le : jeudi 11 avril 2024-13:18:11
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : in2p3-00019492 , version 1
Citer
J.J. Grob, P. Siffert, R. Prisslinger, S. Kalbitzer. Damage profiles and annealing of Si(B) implants. International Conference On Applications Of Ion Beams To Materials, Sep 1975, Warwick, United Kingdom. pp.24-30. ⟨in2p3-00019492⟩
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